Новости ФНТП
Физтех-школа электроники, фотоники и молекулярной физики проведет научную школу по синхротронному излучению

Физтех-школа электроники, фотоники и молекулярной физики проведет научную школу по синхротронному излучению

Физтех-школа электроники, фотоники и молекулярной физики (ФЭФМ) 20 и 21 ноября проведет открытую научную школу по методам синхротронных исследований для изучения и контроля свойств материалов и устройств микроэлектроники.

Курс предназначен для студентов магистратуры, аспирантов и специалистов в области физики конденсированного состояния, микроэлектроники и физической электроники.

Программа научной школы направлена на формирование у слушателей представления о возможностях использования синхротронного излучения в области исследований материалов и функциональных структур микроэлектроники.

Участники также ознакомятся с научными результатами последних лет, полученными на источниках синхротронного излучения. Отдельное внимание будет уделено вопросам метрологического обеспечения синхротронных методов и применению синхротронного источника для метрологии детекторов и источников излучения в области вакуумного ультрафиолета.

Занятия пройдут в режиме видеоконференцсвязи.

Программа школы:

20 ноября

14:00 — Батурин Андрей Сергеевич: «Синхротронное излучение для обеспечения единства измерений параметров оптического излучения ультрафиолетового и рентгеновского диапазонов спектра».

15:00 — Чуприк Анастасия Александровна: «Синхротронное излучение для operando измерений параметров функциональных тонких электронных структур». 

16:00 — Зенкевич Андрей Владимирович: «Исследование прототипов инновационных устройств энергонезависимой памяти спектроскопическими методами на синхротронных источниках». 

17:00 — Токунов Юрий Матвеевич: «Метрологическое обеспечение дифракционных методов с использованием синхротронного излучения». 

Ссылка для подключения

21 ноября

14:00 – Якунин Сергей Николаевич: «Поверхностно-чувствительные синхротронные методы в исследовании тонкопленочных слоистых систем». 

15:00 — Чижов Павел Сергеевич: «Дифракционные методы в электронике». 

16:00 — Николаев Константин Владимирович: «Рентгеновская метрология для электроники». 

17:00 — Витухновский Алексей Григорьевич: «Двухфотонная фотополимеризация для изготовления рентгеновских оптических приборов». 

Ссылка для подключения

Фото и информация предоставлены пресс-службой МФТИ