Синхротронное излучение помогает в изучении исторического стекла
В ходе реализации мероприятий Федеральной научно-технической программы развития синхротронных и нейтронных исследований и исследовательской инфраструктуры на 2019–2027 годы» по итогам выполнения работ исследовательской программы «Комплементарные аналитические методы, в том числе синхротронно-нейтронные, в исследованиях и научной реставрации объектов культурного наследия» в 2022 году были получены результаты интеллектуальной деятельности. Получен патент «Способ измерения количества технологических добавок и случайных примесей в исторических стеклах методом рентгеновской флуоресценции с источником синхротронного излучения» (решение Федерального института промышленной собственности о выдаче патента от 01.02.2023).
В предложенном способе измерений для определения технологических добавок и случайных примесей (Ti-Zn) в исторических стеклах в качестве источника возбуждения используются основные преимущества синхротронного излучения, выгодно отличающие его от рентгеновского излучения лабораторных источников: высокая интенсивность и возможность изменения энергии падающего излучения в широком диапазоне. Повышение предела обнаружения в определении количественного содержания технологических добавок и случайных примесей (Ti-Zn) в исторических стеклах достигается за счет использования падающего пучка синхротронного излучения с энергией, близкой к краю поглощения используемой линии возбуждения для каждого элемента, определяемой энергией связи его К-оболочки. А проблема повышения точности определения содержания элементов решается использованием внутренних и внешних стандартов и регистрацией отношений интенсивности Кα линии определяемого элемента к интенсивности линии стандарта.
Источник: ФГБУ «Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт»